Taylor Hubson PGI Optics Temaslı Optik Profilometre cihazı ile gerçekleştirilecek ölçümler şu şekildedir:
- Yüksek hassasiyetli eğrilik yarıçapı ölçümü
- Yüzey kalitesi ve biçimi ölçümü
- Basamak yüksekli̇ği̇ ölçümü
- Yüzey pürüzlülük parametreleri̇ ölçümü
- 300 mm tek iz ölçümü
- Küresel, kırınımlı, fresnel, asferik lensler, silindirik ve serbest biçimli gibi karmaşık yüzeylerde yüksek doğrulukta ölçüm
jpeg.jpeg)