Perkin Elmer Spektra FTIR Spektrometre cihazı ile gerçekleştirilecek ölçümler şu şekildedir:

  • 2 - 25 mikrometre bant aralığında optik yansıma ve geçirgenlik ölçümleri
  • İnce film absorpsiyon ölçümleri
  • 10 derece yüksek hassasiyetli yansıma ölçümleri
  • İnce film optik karakterizasyon analizi