Perkin Elmer Spektra FTIR Spektrometre cihazı ile gerçekleştirilecek ölçümler şu şekildedir:
- 2 - 25 mikrometre bant aralığında optik yansıma ve geçirgenlik ölçümleri
- İnce film absorpsiyon ölçümleri
- 10 derece yüksek hassasiyetli yansıma ölçümleri
- İnce film optik karakterizasyon analizi